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    X射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。
    X射線熒光光譜儀又根據(jù)一次能夠分析單個元素或多個元素，而有單道與多道之分。貴金屬首飾的x射線熒光光譜分析法是國際金融組織推薦的檢測方法之一。由于元素及含量直接顯示，所以測定起來很簡單，尤其是定性分析和半定量分析快速、準確。定量分析比定性和半定量分析都要復雜，因為它需要一個比較的標準。具體的步驟是：
    1．做好標樣的定量變化工作曲線；
    2．將被測樣品放入樣品室測試，記錄元素和含量參數(shù)；
    3．翻動被測樣品，再記錄元素和含量參數(shù)；
    4．根據(jù)平均的含量參數(shù)查標準工作曲線，從工作曲線中找到元素的準確含。