在使用厚度測量儀器的時(shí)候，在正常的操作過程中，有時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)測量的數(shù)據(jù)與實(shí)際的要求有所偏差，或者是測量次數(shù)多了，數(shù)據(jù)的比較會(huì)發(fā)生小許的變化，這是什么原因造成的呢？針對用戶的問題，南北潮商城在實(shí)際的經(jīng)驗(yàn)以及和客戶的溝通中總結(jié)一下9點(diǎn)影響厚度測量儀器精準(zhǔn)度的因素供各位參考。
一、基體厚度
在進(jìn)行覆層厚度測量時(shí) ，對被測樣品的薄厚有基本的要求，要給出一個(gè)基體的既定最小厚度值，能夠全部將探頭的磁場包裹在被測樣品的金屬中。 所給出的既定最小厚度值與被測樣品的性質(zhì)有關(guān)，大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響，不用再修整所測量的結(jié)果。 如果基體的厚度達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)，所檢測到的數(shù)據(jù)就會(huì)有偏差，就不是最精準(zhǔn)的，這種情況下就需要使用同材質(zhì)的物體緊貼在被測樣品上再進(jìn)行測量。 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。
二、邊界距離
當(dāng)探頭與被測樣品邊界 、孔眼 、空腔 、其他截面變化處的距離小于規(guī)定的邊界距離時(shí)， 由于渦流載體截面不夠?qū)a(chǎn)生測量誤差。 因此，在靠近被測樣品邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。 如果必須測量該點(diǎn)的覆層厚度時(shí)，需預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)。
三、曲率半徑
被測樣品的曲率半徑對測量結(jié)果有影響 。 隨著被測樣品曲率半徑的減小， 對測量結(jié)果的影響明顯增大，因
此，在彎曲樣品的表面上進(jìn)行測量是不可靠的。
四、表面粗糙度
粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差 ，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。 在粗糙表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。 顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。 基體金屬和覆蓋層的粗糙度越大，對測量結(jié)果的影響就越大。 為獲得可靠的測量數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度 Ra 應(yīng)小于覆層厚度的 5%。
五、表面清潔度
應(yīng)去除表面的雜質(zhì) 、 油污等 ， 以保證儀器測頭和被測試件表面能夠直接接觸。
六、探頭壓力
探頭置于試件上 ，所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù)。 理論上講，探頭進(jìn)行檢測時(shí)所使用的力應(yīng)該是一成不變的， 但實(shí)際測量過程中由于操作者的不同或操作者的經(jīng)驗(yàn)不足，往往不能嚴(yán)格保持檢測時(shí)所使用的力一成不變。 因此，改變力應(yīng)盡量最小化，這樣對于軟的覆蓋層才不會(huì)出現(xiàn)變形情況，導(dǎo)致檢測數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。 需要時(shí)，可以在探頭以及被檢測物體之間增加具有相當(dāng)厚度的絕緣的硬性薄膜， 在檢測結(jié)果中減掉薄膜的厚度就能夠得到想要的結(jié)果。
七、探頭方向
探頭的放置方式對測量有影響 。 在測量過程中，應(yīng)當(dāng)使探頭與被測樣品表面保持垂直。
八、磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。 測量應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場附近開展，根據(jù)檢測儀器的性能、殘存的剩磁可能導(dǎo)致或多或少的測量誤差， 但是結(jié)構(gòu)鋼、 深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
九、覆層材料中的鐵磁成分和導(dǎo)電成分
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響。 為了避免受到熱處理和冷加工因素的影響， 應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
